Deutsche Bundesgesetze und -verordnungen

Kostenverordnung für die Zulassung von Meßgeräten zur Eichung (ZulKostV)

Ausfertigungsdatum

1992-12-22

Fundstelle

BGBl I: 1992, 2471

Zuletzt geändert durch

Art. 1 V v. 19.1.2012 I 119

Eingangsformel

Auf Grund des § 14 Satz 1 Nr. 1 und 2 des Eichgesetzes in der Fassung der Bekanntmachung vom 23. März 1992 (BGBl. I S. 711) in Verbindung mit dem 2. Abschnitt des Verwaltungskostengesetzes vom 23. Juni 1970 (BGBl. I S. 821) verordnet der Bundesminister für Wirtschaft:

§ 1 Anwendungsbereich

Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch- Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben:

1. die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von Messgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung mit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß den §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichordnung,

2. die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von erteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Absatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung,

3. die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß § 27 der Eichordnung,

4. die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln der zuständigen Behörden und der staatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a Nummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Nummer 2 des Eichgesetzes,

5. die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfungen oder Kennzeichnungen von Messgeräten gemäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung,

6. die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß § 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung,

7. die Änderungen an bestehenden Bescheinigungen über die Anerkennung von Herstellerzeichen für Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eichordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichordnung weiter Anwendung finden kann,

8. die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbehältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der Fertigpackungsverordnung.

§ 2 Gebührenberechnung

(1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen.

(2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten:

1. vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche, Aufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließlich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie sonstige Vorarbeiten,

2. die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt,

3. Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Protokolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie sonstige Abschlussarbeiten,

4. Besprechungen sowie Schreibarbeiten.

(3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für

1. Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden,

2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht worden sind.

§ 3 Gebührenerhebung in besonderen Fällen

Erfordert eine Zulassung einen überdurchschnittlichen sachlichen Aufwand, so ist dieser nach den Selbstkosten zu berechnen. Um diesen Betrag erhöht sich die Gebühr nach § 2.

§ 4 Auslagen

Auslagen sind nach Maßgabe des § 10 des Verwaltungskostengesetzes zu erstatten. Die in § 10 Abs. 1 Nr. 1 des Verwaltungskostengesetzes bezeichneten Auslagen werden jedoch nicht gesondert erhoben.

§ 5 Inkrafttreten

Diese Verordnung tritt am Tage nach der Verkündung in Kraft.

Schlußformel

Der Bundesrat hat zugestimmt.

Anlage (zu § 2)

(Fundstelle: BGBl. I 2012, 119 - 120)

Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:

• • Themenbereich

  • Stundensatz Euro

  • Fachbereich

• • Themenbereich 1 Akustik, Ultraschall, Beschleunigung

  • 82

  • Kinematik

• • Schall
• • Angewandte Akustik

• • Themenbereich 2 Durchfluss

  • 93

  • Gase

• • Flüssigkeiten
• • Wärme und Vakuum

• • Themenbereich 3 Elektrizität und Magnetismus

  • 73

  • Gleichstrom und Niederfrequenz

• • Hochfrequenz und Felder
• • Elektrische Energiemesstechnik
• • Quantenelektronik
• • Halbleiterphysik und Magnetismus
• • Elektrische Quantenmetrologie

• • Themenbereich 4 Ionisierende Strahlung

  • 89

  • Radioaktivität

• • Strahlentherapie und Röntgendiagnostik
• • Strahlenschutzdosimetrie
• • Ionenbeschleuniger und Referenzstrahlungsfelder
• • Neutronenstrahlung
• • Grundlagen der Dosimetrie

• • Themenbereich 5 Länge, dimensionelle Metrologie

  • 85

  • Bild- und Wellenoptik

• • Quantenoptik und Längeneinheit
• • Oberflächenmesstechnik
• • Dimensionelle Nanometrologie
• • Koordinatenmesstechnik
• • Interferometrie an Maßverkörperungen

• • Themenbereich 6 Masse und abgeleitete Größen

  • 83

  • Masse

• • Festkörpermechanik

• • Themenbereich 7 Metrologie in der Chemie

  • 78

  • Metrologie in der Chemie

• • Gasanalytik und Zustandsverhalten
• • Stoffeigenschaften und Druck

• • Themenbereich 10 Thermometrie

  • 89

  • Detektorradiometrie und Strahlungsthermometrie

• • Temperatur
• • Kryophysik und Spektrometrie

• • Sonstige Leistungen

  • 85

  • Gesetzliches Messwesen und Technologietransfer

• • 70

  • Justitiariat

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